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现代材料加工领域,多层镀层与功能薄膜已经成为零部件性能实现的重要载体,薄膜层的实际状态直接关联产品的耐蚀能力、导电表现以及外观品质,如何获取可靠的薄膜检测数据,是工艺研发与品质管控环节需要面对的现实课题,X射线膜厚仪依托非接触检测的技术路径,在这类场景中得到较多落地应用。很多使用者在接触这类设备时,容易把关注点单纯放在最终输出的厚度数值上,忽略仪器本身的适用边界,进而对检测结果产生认知偏差,理清背...
2016-10-27
2016-09-10
2016-08-25
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