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    XAU-4CS镀层厚度与ROHS分析仪

    镀层厚度与ROHS分析仪采用Fp算法的后一代全新核心算法--理论Alpha系数法，基于荧光X射线激发的基本原理，从理论上计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线的荧光强度，在基于此计算Lachance综合校正系数，然后使用这些理论a系数去校正元素间的吸收增强效应。、可测试重复镀层、非金属、轻金属以及有机物层。

    更新时间：2025-08-28
    型号：XAU-4CS
    厂商性质：经销商
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