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  • XTU-BL膜厚测试仪

    超薄膜厚测试仪性能优势:$n下照式设计:快速方便的定位各种形状的样品,满足一切测试所需。$n无损变焦检测:拥有手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm。$n微聚焦射线装置:可测试各微小的部件,小检测面积可达0.002mm²。$n高效率的接收器:在检测0.01mm²以下的样品时,几秒钟也可达到稳定性。

    更新时间:2025-08-28
    型号:XTU-BL
    厂商性质:经销商
    浏览量:2788
  • Thick8000X射线膜厚仪

    X射线膜厚仪利用X射线的穿透特性及其与材料的相互作用来测量材料的厚度。当X射线照射到待测样品表面时,一部分射线会透过样品,而另一部分则会被样品吸收或散射。膜厚仪通过检测透过样品的X射线强度来计算样品的厚度。

    更新时间:2025-08-28
    型号:Thick8000
    厂商性质:经销商
    浏览量:18
  • Thick8000镀金测试仪 镀层分析仪

    镀金测试仪 镀层分析仪 1.精密的三维移动平台 2.的样品观测系统 3.的图像识别 4.轻松实现深槽样品的检测 5.四种微孔聚焦准直器,自动切换 6.双重保护措施,实现无缝防撞 7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度

    更新时间:2025-08-28
    型号:Thick8000
    厂商性质:经销商
    浏览量:2365
  • XTUX荧光镀层测厚仪  涂层膜厚仪 镀层生产厂家

    电镀测厚仪,X荧光镀层测厚仪 涂层膜厚仪 镀层生产厂家$n XTU系列测厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。$n 搭配微聚焦射线管和*的光路设计,以及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。$n 检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽可达90mm。$n外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样

    更新时间:2025-08-28
    型号:XTU
    厂商性质:经销商
    浏览量:2354
  • XTU-BLPCB板材膜厚仪电镀层测厚仪

    PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪XTU 系列测厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和*的光路设计,及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽可达90mm。外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,

    更新时间:2025-08-28
    型号:XTU-BL
    厂商性质:经销商
    浏览量:1894
  • XTU-50B引线框架测厚仪

    引线框架测厚仪 下照式设计:快速方便的定位各种形状的样品,满足一切测试所需。 无损变焦检测:拥有手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm。 微聚焦射线装置:可测试各微小的部件,小检测面积可达0.002mm²。 高效率的接收器:在检测0.01mm²以下的样品时,几秒钟也可达到稳定性。 精密微型滑轨:精密的手动移动平台,快速定位所需检测的样品

    更新时间:2025-08-28
    型号:XTU-50B
    厂商性质:经销商
    浏览量:1805
  • XRF-2020韩国先锋膜厚仪 镀测测试仪

    韩国先锋膜厚仪 镀测测试仪 韩国先锋XRF-2020膜厚仪 检测电子电镀,化学电镀层厚度, 如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡... 可测单层,双层,多层,合金镀层,

    更新时间:2025-08-28
    型号:XRF-2020
    厂商性质:经销商
    浏览量:6994
  • CMI900牛津膜厚仪 电镀镀测测试仪

    Fischer膜厚仪维修,牛津膜厚仪 电镀镀测测试仪 $nCMI900荧光X射线镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,快速无损测量,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。

    更新时间:2025-08-28
    型号:CMI900
    厂商性质:经销商
    浏览量:4248
  • XAU-4CS镀金测金仪 镀层测试仪 光谱分析仪

    X射线膜厚仪 镀金测金仪 镀层测试仪 光谱分析仪性能优势:1.微小样品检测:小测量面积0.03mm²(加长测量时间可小至0.01mm²)2.变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm3.EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元 素,甚至有同种元素在不同层也可测量。 4.*的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限。 5.高性能探测器:S

    更新时间:2025-08-28
    型号:XAU-4CS
    厂商性质:经销商
    浏览量:3038
  • XAU-4C(B)国产膜厚仪 电镀测厚仪

    国产膜厚仪 电镀测厚仪 1.微小样品检测:小测量面积0.03mm²(加长测量时间可小至0.01mm²)2.变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm3.EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元 素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量。 4.*的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限。 5.高性能探测器

    更新时间:2025-08-28
    型号:XAU-4C(B)
    厂商性质:经销商
    浏览量:3228
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