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镀金测金仪 镀层测试仪 光谱分析仪

镀金测金仪 镀层测试仪 光谱分析仪

简要描述:

镀金测金仪 镀层测试仪 光谱分析仪
性能优势:1.微小样品检测:小测量面积0.03mm²(加长测量时间可小至0.01mm²)2.变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm3.EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元 素,甚至有同种元素在不同层也可测量。 4.先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限。 5.高性能探测器:S

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镀金测金仪 镀层测试仪 光谱分析仪性能优势:

1.微小样品检测:小测量面积0.03mm²(加长测量时间可小至0.01mm²)

2.变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm

3.先进的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元 素,甚至有同种元素在不同层也可测量。   

4.先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限。   

5.高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积25mm²探测器。   

6.X射线装置:微焦加强型射线管搭配聚焦装置。 

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一六仪器研制的测厚仪*的光路交换装置,让X射线和可见光摄像同一垂直线,达到视觉与测试定位一体,且X光扩散度小;与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能,实现高低、凹凸不平各种形状样品的测试;高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍,可以减少弧度倾斜放样带来的误差,同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层。

 

镀金测金仪 镀层测试仪 光谱分析仪先进的EFP算法

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法,结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

RoHS检测及标定

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