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  • XAU-4C(B)国产膜厚仪 电镀测厚仪

    国产膜厚仪 电镀测厚仪 1.微小样品检测:小测量面积0.03mm²(加长测量时间可小至0.01mm²)2.变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm3.EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元 素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量。 4.*的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限。 5.高性能探测器

    更新时间:2025-08-28
    型号:XAU-4C(B)
    厂商性质:经销商
    浏览量:3228
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