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  • XTU-50B引线框架测厚仪

    引线框架测厚仪 下照式设计:快速方便的定位各种形状的样品,满足一切测试所需。 无损变焦检测:拥有手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm。 微聚焦射线装置:可测试各微小的部件,小检测面积可达0.002mm²。 高效率的接收器:在检测0.01mm²以下的样品时,几秒钟也可达到稳定性。 精密微型滑轨:精密的手动移动平台,快速定位所需检测的样品

    更新时间:2025-08-28
    型号:XTU-50B
    厂商性质:经销商
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