EDX3000BX射线荧光光谱仪的结构系统分析

　　EDX3000BX射线荧光光谱仪是一种常用的光谱技术，既可用于材料的组成成分分析，又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。EDX3000BX射线荧光光谱仪能非常好地筛选出原材料、部件和成品的有害元素，使消费品和配件的生产商、进口商和零售商从中获益。EDX3000BX射线荧光光谱仪提供无损分析，也就是说被检测物品可以以后继续使用或从新进入供应链。EDX3000BX射线荧光光谱仪能很好地检测塑料、产品包装、金属或混合原料中的氯（Cl）、镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、铬（Cr）、溴（Br）和其它受限制的有毒元素。EDX3000BX射线荧光光谱仪检测只需要zui简单的培训，基本不需要样品制备，*可以携带至样品处检测，这样就无需挪动材料。

　　机械系统：试样装载系统、光学系统、测角测角仪系统

　　主要是晶体分光器，通过晶体衍射现象把不同波长的X射线分开。根据布拉格衍射定律2dsinθ=nλ，改变θ角，EDX3000BX射线荧光光谱仪可以观测到不同波长的X射线。测角仪系统1θ及2θ用直流马达直接定位单独控制。

　　谱仪支持系统：真空系统、充氦系统、压缩空气系、P10气系统、谱仪温控系统、光管内部循环冷却水系统。

　　真空系统(真空故障判定)、压缩空气(空压机输出压力为4-5bar，报警可适当调整)、探测器气体系统(P10气系统:EDX3000BX射线荧光光谱仪本身带有气密度稳定系统。压力0.75bar，流量1L/h，气体流量与腔内温度有关)、温控系统(机内恒温:30度左右)、内循环水系统(用于冷却X射线管的阳极)。

　　检测通道系统：

　　流量正比计数器(轻元素)和闪烁计数器(重元素)，半导体检测器等。EDX3000BX射线荧光光谱仪不同的晶体探测器组合，探测器高压单独设定。