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膜厚测试仪的常见故障及解决方法分享

发布时间:2022-03-28   点击次数:206次
  膜厚测试仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量可以在10秒到几分钟内完成。
  今天小编要与大家分享的是膜厚测试仪的常见故障及解决方法:
  1、示值显现不稳定
  致使仪器示值显现不稳定的要素主要是来自工件本身的资料和构造的特别性,再者,被测件的外表粗糙度和附着物也是致使仪器示值显现不稳定的重要要素,其探头对那些阻碍与覆盖层外表紧密触摸的附着物质灵敏。有必要确保探头与覆盖层外表直触摸摸。因而,解决此种毛病的关键即是:测量前铲除被测件触摸面的尘埃、细屑、油脂及腐蚀产物等附着物,但不要除去任何覆盖层物质。再有即是在进行体系调零时,所使用的基体外表也有必要是清洗、润滑的。
  2、屏幕不显现数据
  简略要素即是查看电池是不是电量足够,断定电池电量足够后如发现测量仍是不显现数值,可以思考是不是有测头及连线有松动、断开或触摸不良景象、电池漏液后腐蚀仪器内电子零部件等要素影响。在实际作业中就碰到过因测头使用不当被化学物品腐蚀,致使仪器不显现数据的景象。
  3、测量成果差错大
  探头的放置方法对测量有很大影响,在测量中应使探头与被测件外表坚持笔直。而且探头的放置时刻不宜过长,避免形成基体本身磁场的搅扰。测量时不要拖动探头,由于这么不仅对探头会形成磨损,也不会得到的测量成果。别的,基体金属被磁化、基体金属厚度过小、工件曲率过小、测量基座外表有锈蚀、测量现场周围有电磁场搅扰等要素都有也许致使测量成果的反常,假如离电磁场十分近时还有也许会发作死机景象。

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