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Thick800a 镀层厚度检测仪

Thick800a 镀层厚度检测仪

简要描述:

Thick800a 镀层厚度检测仪:Omnian以全程扫描为定性分析的基础,用13个合成的参考样品建立扫描程序获得的测量强度,以此作为定量分析的依据;适用于分析范围很宽的固体、粉末和液体试样的快速无标样近似定量(半定量)分析。

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  • 企业类型:制造商
  • 新旧程度:
  • 原产地:江苏昆山
  • 环境温度:15℃-30℃
  • 管流:50μA-1000μA
  • 仪器重量:75KG
  • 元素分析:硫(S)到铀(U)
  • 精度:0.005mm

Thick800a 镀层厚度检测仪工作原理介绍
用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。下是这两类仪器的原理图。
    用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。下图是这两类仪器的原理图。
  X射线荧光光谱仪分析的一般步骤是:选择分析方法,样品制备,仪器参数选择与校准曲线的制作,试样分析。 
  SuperQ是Axios系列X 射线荧光光谱分析仪的主操作软件,控制光谱仪的运行和定性定量分析数据的处理。SuperQ先汇编各测量参数,再依次检查光学电学条件、校正系数,zui后自动汇编建成定性或定量分析测量程序。 
  Omnian以全程扫描为定性分析的基础,用13个合成的参考样品建立扫描程序获得的测量强度,以此作为定量分析的依据;适用于分析范围很宽的固体、粉末和液体试样的快速无标样近似定量(半定量)分析。

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天瑞Thick800A,Thick600,Thick8000,,EDX1800BS,EDX1800B系列产品是天瑞集多年镀层行业的经验,专门研发用于镀层行业的多款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。天瑞镀层测厚仪功能强大,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。江苏天瑞仪器股份有限公司是专业生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售一体型企业。 2011年1月25日,天瑞仪器在深圳创业板块上市。

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型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。

Thick800a 镀层厚度检测仪

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

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