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Thick800A 镀层测厚仪

Thick800A 镀层测厚仪

简要描述:

Thick800A 镀层测厚仪:Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

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  • 企业类型:制造商
  • 新旧程度:
  • 原产地:江苏昆山
  • 环境温度:15℃-30℃
  • 管流:50μA-1000μA
  • 仪器重量:75KG
  • 元素分析:硫(S)到铀(U)
  • 精度:0.005mm

 

   天瑞光谱分析仪器是属于大型光学精密一起。以前我国主要依靠进口光谱分析仪,进口的光谱分析仪价格昂贵,耗费国家大量外汇。所以一机都在75年组织了光电式光谱分析仪会战,从此我国可以自己大量生产大型光谱分析仪。光谱分析仪器结构虽然很复杂,主要由下面四部分组成:光源、分光器(又称单色器)、接收器(又称探测器)、输出装置。为了更好的利用仪器和得到满意的测试结果,必须对仪器各主要部分的作用和原理有所了解。

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光谱分析仪的优点

1.采样方式灵活,对于稀有和贵重金属的检测和分析可以节约取样带来的损耗。

2.测试速率高,可设定多通道瞬间多点采集,并通过计算器实时输出。

3.对于一些机械零件可以做到无损检测,而不破坏样品,便于进行无损检测。

4.分析速度较快,比较适用做炉前分析或现场分析,从而达到快速检测。

5.分析结果的准确性是建立在化学分析标样的基础上。

光谱分析仪的缺点

1.对于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到准确检测。

2.不是原始方法,不能作为仲裁分析方法,检测结果不能做为国家认证依据。

3.受各企业产品相对垄断的因素,购买和维护成本都比较高,性价比较低。

4.需要大量代表性样品进行化学分析建模,对于小批量样品检测显然不切实际。

5.模型需要不断更新,在仪器发生变化或者标准样品发生变化时,模型也要变化。

6.建模成本很高,测试成本也就比较大了,当然对于大量样品检测时,测试成本会下降。

7.易受光学系统参数等外部或内部因素影响,经常出现曲线非线性问题,对检测结果的准确度影响较大。



黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

仪器介绍

Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

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满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

Thick800A 镀层测厚仪技术指标

型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

Thick800A 镀层测厚仪标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机


无损天瑞X荧光光谱镀层膜厚检测仪,天瑞镀层测厚仪

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