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韩国MicroPioneer X-射线荧光电镀膜厚测试仪

韩国MicroPioneer X-射线荧光电镀膜厚测试仪

简要描述:

韩国MicroPioneer X-射线荧光电镀膜厚测试仪,韩国MicroPioneer X-射线荧光膜厚仪/测厚仪,主要应用于一般工件、线路板、五金电镀、半导体支架电镀、人造首饰、端子及电子元器件等产品的各种镀层行业的一款仪器,全自动软件操作,多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台,是一款功能强大的仪器

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韩国MicroPioneer X-射线荧光电镀膜厚测试仪 产品介绍
 韩国MicroPioneer X-射线荧光电镀膜厚测试仪XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用于材料的涂层/镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。
  XRF-2000系列分为以下叁种:
  1.H-Type:密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。
  2.L-Type:密闭式样品室,方便测量样品较小,高度约30mm以下。
  3.PCB-Type:开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测。
  应用
  测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围:Ti(22)~U(92)。
  行业
  五金类、螺丝类、PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。
特色
  非破坏,非接触式检测分析,快速精准。
  可测量高达六层的镀层(五层厚度底材)并可同时分析多种元素。
  相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告。
  全系列独特设计样品与光径自动对准系统。
  标准配备:溶液分析软体,可以分析电镀液成份与含量。
  准直器口径多种选择,可根据样品大小来选择准值器的口径。
  移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差。
  独特2D与3D或任意位置表面量测分析。
  雷射对焦,配合彩色CCD撷取影像使用point and shot功能。
  标准ROI软体搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告。
  光学2 0X 影像放大功能,更能精确对位。

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18926776507
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